BM系列超微量分析天平
BM系列自动微量分析天平,是日本AND公司在2011年新在国际市场上推出的精度达1μg,有效分辨率高达2500万份之一的超微量分析天平。22g X 1μg、250gX0.01mg、520gX0.1mg。
MA/MP系列电子天平
MP/JA系列电子天平 特点: ◆ 优化设计,性能更佳。 ◆ 电磁式称量传感器,为高精度产品提供了可靠保证。 ◆ 实现超轻物品的称重计算及单位转换和百分比计算。 ◆ 备有标准砝码可进行多点校准。 ◆ 双量程天平,一台天平具有二个量程、二个精度。 ◆ 性能价格比优越。 ◆ 具有RS232数据接口。
天平
CP 系列天平● 精度0.01mg/0.1mg 的天平有全玻璃防风罩● 双向数据接口RS232● 内置全自动校准砝码(微量/准微量/分析天平)● 天平下部吊钩称量● 超载保护 符合 ISO/GLP 的记录和打印功能● 应用程序:百分比称量,净重/总和配方计算,动态称量/动